在无损检测领域，超声检测仪器凭借精准、高效的缺陷探测能力，广泛应用于工业生产与设备运维。其分类逻辑清晰，核心性能参数直接决定检测质量。
一、核心分类
按声源能动性
能动性探伤仪（声发射型）——依赖被检物体在外力作用下，由内部缺陷主动发射的超声波，结合外部诱发条件判断缺陷情况，适用于动态监测场景。
被动性探伤仪——由仪器自身发射超声波，通过缺陷反射、折射的回波判断缺陷状态，是当前超声探伤中应用最广泛的类型。
按发射波连续性
连续波探伤仪——探头发射单一频率等幅正弦波、调幅波或调频波，多用于特定穿透法检测。
脉冲波探伤仪——发射周期性指数衰减脉冲波，主打反射法探伤，因适配性强，成为目前应用最广的类型。
按缺陷显示方式
A 型显示探伤仪——示波管横坐标准传播时间、纵坐标准回波幅度，能确定缺陷深度、估算缺陷大小，结构简单、价格低、适应性强，但显示不直观、不便记录，仅反映探伤面单点结果。
B 型显示探伤仪——平面图像显示，可呈现工件纵断面缺陷分布与深度，直观性优于 A 型。
C 型显示探伤仪——同样为平面图像，显示缺陷垂直于声束轴的横截面，但无法体现缺陷深度。
直接成像型探伤仪——含超声电视、全息成像等，能直接显示缺陷真实形状与大小，精度最高。
按声波通道
单通道探伤仪——单探头工作，适用于单点检测。
多通道探伤仪——多探头交替工作，适配自动化多点探伤场景。
其中，A 型显示脉冲反射式超声探伤仪综合性能均衡，是各类仪器中应用最广泛的类型。
二、关键性能参数
仪器性能参数直接影响检测精度与可靠性，核心参数包括八大类。
垂直线性
指荧光屏信号高度与输入信号电压的成正比程度，决定定量探伤质量（通过缺陷回波高度判断缺陷大小）。测试时需固定耦合状态，以试块底波为满刻度，调衰减器记录波高变化。
水平线性（时基线性）
反映扫描线速度均匀度，影响缺陷定位精度（几何法确定缺陷位置时，扫描线单位长度代表的距离需一致）。常用多次反射法测试，通过试块多次底波间距的等间隔程度判断。
探测范围
指仪器能探测工件的最大深度（最小深度由盲区决定），与发射功率、扫描时间等相关，需按实际检测需求调整。
动态范围
以回波高度从饱和 80% 衰减至 1mm（或消失）所需衰减量（dB）表示，体现仪器对不同幅度回波的响应能力。
灵敏度
表征仪器检测最小缺陷的能力，用特定距离下人工缺陷尺寸（如平底孔直径）及增益余量表示，需通过标准试块测试。
分辨力
指远场中区分两个相邻缺陷的能力，是仪器与探头的综合性能，需通过试块特定反射波的分离情况判断。
盲区
始脉冲后无法正常探测缺陷的区域，以能测到缺陷的最小距离表示，同样需借助标准试块测试。
工作频率
通常在 0.5~20MHz，高频率灵敏度、分辨力好但衰减大，低频率穿透性强但精度低，需按被检材料晶粒粗细选择（细晶粒选高频，粗晶粒选低频）。
此外，发射脉冲重复频率（50~100kHz，与探测距离相关）、衰减器特性（总衰减量、最小调节档级、精度）等也是重要参数。
三、总结
超声检测仪器分类明确，不同类型适配不同检测需求，核心性能参数决定检测精度。实际应用中，需结合检测目标（如动态监测、自动化探伤、缺陷精准成像等）选择仪器类型，并根据被检材料特性与检测要求，合理调整工作频率、探测范围等参数，为工业无损检测提供可靠支撑。
