材料表征表面性能的几种测试工具

SilcoTek的材料表面特征的能力®

材料表面特性的能力服务于支持SilcoTek至关重要的作用®  涂料科学和R&d的努力。彻底评估表面的能力是开发新型惰性阻隔涂层产品的关键,并在帮助客户扩大规模和处理故障排除方面发挥着重要作用。

各种表面表征技术使SilcoTek科学家能够研究材料,分析表面键合机制,并深入了解表面特性。

表征表面需要哪些工具?

涂层表面特征始于一个有能力和知识渊博的研发团队。帮助分析表面的工具因应用和需求而异,但这里有一些我们用来理解表面的工具。

X射线荧光(XRF)分析仪

为了避免由不相容的基材造成的工艺中断,SilcoTek使用Thermo Scientific X射线荧光(XRF)分析仪,一种非破坏性的元素分析工具,来识别任何不熟悉的进入金属基材。其他涂料公司可能猜测基础金属是什么,我们知道我们涂的是什么材料!

FTIR

FTIR图

傅里叶变换红外光谱(FTIR)使用宽带红外辐射作为激发源来探测气态,液态或固态的各种化学物质的分子结构。SilcoTek的技术人员定期使用FTIR技术执行质量保证/质量控制职责,以及SilcoTek的科学家协助他们的研发项目。

F20薄膜分析仪

薄膜分析仪

SilcoTek的F20薄膜分析仪(由Filmetrics Inc.制造)是一种台式工具,可配置为测量薄膜厚度(30Å至350 mm),光学常数(n和k:折射率和消光系数)和透射率。它主要被SilcoTek用作测量表面厚度的快速,准确和非破坏性方法。

表面接触角测量

接触角是一滴液体与其(通常为固相)接触表面形成的角度。通过液滴测量,在固体表面和接触线附近的液体弯月面之间形成角度。接触角给出了表面对液体(通常是水)的润湿性的指示,并且接触角的值可以随着液滴的体积而变化。

水滴

SilcoTek科学家在研究疏水性和超疏水性表面发展方面严重依赖接触角测量,其中适当设计的表面形貌可以在表面产生极端的防水性能。

SilcoTek客户的接触角测量有益:确保应用所需的表面疏水性/亲水性; 确认成功的表面粘合。

电化学阻抗谱(EIS)

电化学阻抗谱(EIS)是一种非破坏性且非常有用的工具,用于研究和评估金属基材上保护涂层的性能。测量结果提供了与涂层性能和失效过程相关的信息,如电阻,电容,双层电容和法拉第阻抗。

EIS图