精科 C84-III 反射率测定仪 漆膜遮盖力测定仪器
示值范围0~100,重复性0.3%,显示数据与反射光强度成正比,光普灵敏度近似等于Sc与Y的乘积。
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概述
C84-III反射率测定仪是用于测试涂料、油墨、颜料等涂膜的遮盖力,在化工行业广泛应用。C84-III反射率测定仪的设计是完全符合国际标准ISO3906-1980(E)、国家标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88的相关规定,测量的范围为0~100,重复精度为0.3%。
工作原理
C84-III反射率测定仪由探头、主体、标准板(黑白各一块)、工作陶瓷板(黑白各两块)等组成。具体原理为探头采用0°照射,漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于硒光电池表面产生电讯号输入到直流放大器进行放大,并予以读数显示(光路原理图及仪器框图如下图)

商品展示图
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规格参数Specs
| 型号 | C84-III |
| 测量范围 | 0~100 |
| 重复精度 | 0.3% |
| 显示数据与反射光强度 | 成正比 |
| 光普灵敏度 | 近似等于Sc与Y的乘积 |
| 环境温度 | 20°±5° 相对湿度<85% |
| 输入电源 | 220V±10% 50Hz |
精科 C84-Ⅲ 反射率测定仪包装清单Detail
| 名称 | 型号 | 说明书 | 画册 | 操作说明书 | 清单 |
|---|---|---|---|---|---|
| 反射率测定仪 | C84-Ⅲ | 电器箱x1,探头x1,黑色标准板x1,白色标准板x1,黑色工作板x2,白色工作板x21,备用灯泡x3,擦镜布x1,包装盒x1 【注意】因厂家包装可能更新或升级,详细包装清单以厂家最新标配为准。 |
售后保障Terms
| 名称 | 型号 | 保修天数 | 说明 |
|---|---|---|---|
| 反射率测定仪 | C84-Ⅲ | 365天 | 【注意】 选购该产品自订购合同日期起计算,保修期1年,保修期内运费客户承担。 使用不当造成损坏不在保修范围内。 |


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常见问题FAQ
- 废止ASTM D2805-11(2018)
- 现行JG/T 235-2014
- 现行JC/T 1040-2020
- 现行GB/T 7048-2012
- 现行GB/T 34676-2017
- 现行GB/T 23997-2009
- 现行JJF 1232-2009
- 现行GB/T 9780-2013
- 现行GB/T 9757-2001
- 现行ASTM D2805-11(2023)
- 废止GB/T 9755-2014
- 现行GB/T 9756-2018
- 现行GB/T 5211.17-1988
- 被代替ASTM D2805-0
- 现行GB/T 26464-2011
- 被代替JG/T 172-2005
- ISO 2814-1973
- 废止GB/T 9270-1988
- 废止GB/T 23981-2009
- 现行GB/T 13452.3-1992



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