恩迈 EM-CI4000 氙灯老化试验箱
辐照度校准，自主研发氙灯校准仪，可溯源至中国计量院。 主要核心部件自主研发并拥有自主知识产权-氙灯触发系统，准确辐照度测量技术，氙灯及主要配件采用国外进口产品
恩迈
EM-CI4000
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恩迈 EM-CI4000 氙灯老化试验箱
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产品应用
EM-C系列氙灯是一款采用长弧水冷氙灯为光源的耐候试验箱。可为科学研究，产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速老化试验。广泛应用于汽车材料、塑料、包装、涂料、油墨、染料、稳定剂、纺织品、电子电器等行业。
产品特点
a)美国GE公司PLC控制器，自动化控制，运行安全可靠
b)触摸屏人机界面，操作简单，功能强大
c)实时显示并自动控制样品架温度（BST、BPT）、工作室温（DB）、相对湿度、光辐照度能量、时间
d)设备状态、设备故障监视
e)试验参数的设定
f)有报警及信息显示功能
转鼓型样品架
转鼓型样品架在兼顾装样量的同时能确保上、中、下三层样品有极佳的辐照度均匀性。另外，样品随样品架连续绕灯管旋转，进一步确保辐照度、样表温度、喷淋均匀稳定。
控制系统
信息全面且简洁易用的人性化人机界面。
主控制器
采用PLC，控制精准，稳定可靠。
数据记录及导出
自动记录设备运行状态及各项测试参数，用户可根据需要导出指定时间段的数据。
安全保护功能
过流保护
辐照度过高、过低报警保护
超温保护
氙灯冷却水温高报警保护
冷却水流量过低报警保护
冷却水位低报警保护
风机故障报警保护
门未关报警保护
商品展示图
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恩迈 EM-CI4000 氙灯老化试验箱规格参数Specs
型号 | EM-CI4000 |
外形尺寸 | 124cm×114cm×222cm（宽×深×高） |
暴晒面积 | 6500cm2/ 约65块标准样品（140mm×70mm） |
光源 | 6.5kW长弧水冷氙灯 |
光源寿命 | 约2000h（以辐照度0.51 W/m2 @340nm计） |
辐照度显示波段 | 340nm、420nm、300～400nm可选 |
辐照度范围 | 0.3 W/m2～1.33W/m2（@340nm）0.6 W/m2～2.4 W/m2（@420nm） |
样表温度 | 黑板温度：40℃～110℃黑标温度：40℃～120℃ |
箱内温度 | 38℃～80℃ |
箱内湿度 | 光照时：30%RH～75%RH（与温度相关）黑暗时：最大可达100%RH |
测试条件 | 光照、黑暗、喷淋自由组合 |
支持的测试标准 | 符合标准：SAE J2412、SAE J2527、ASTM G 155 ISO 105-B02、ISO 105-B04、ISO 105-B06、 ISO 4892-2-A、ISO 11341-1、GB/T 16422-2、GB/T 1865 GB/T32088 ▲用户可自行设定测试参数，满足大部分国内外常用标准要求。 |
设备使用电源 | AC 380V，50Hz，52A，三相五线（含地线） |
设备使用水源条件 | 自来水：0.14～0.3 MPa实验室二级水：0.08～0.15 MPa实验室二级水用量：约150L/天 |
排水条件 | 排水口距地面高度：≤15cm排水口直径：≥5cm |
环境温度 | 18℃～28℃ |
环境湿度 | 10%RH～85%RH |
安装空间 | ≥280cm×300cm×280cm（宽×深×高） |
环境条件 | 室内，清洁少尘，地面平整，周边无腐蚀性、易燃、易爆的气体、液体、粉尘 |
恩迈 EM-CI4000 氙灯老化试验箱包装清单Detail
| 名称 | 型号 | 说明书 | 画册 | 操作说明书 | 清单 |
|---|---|---|---|---|---|
| 氙灯老化试验箱 | EM-CI4000 |  |
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试验箱X1、操作说明书X1、合格证X1、保修卡X1 【注意】因厂家包装可能更新或升级，详细包装清单以厂家最新标配为准。 |
恩迈 EM-CI4000 氙灯老化试验箱售后保障Terms
| 名称 | 型号 | 保修天数 | 说明 |
|---|---|---|---|
| 氙灯老化试验箱 | EM-CI4000 | 365天 | （1）整机保修一年 自用户购机之日起，试验箱整机免费保修一年，备选件不在保修范围。超过保修期后，我公司提供有偿维修保养服务。 （2）用户送修方式 当试验箱出现故障时，请及时联系本院维修部门，将会与您确定上门服务或其他送修方式。 （3）用户咨询服务 对本司生产的试验箱提供免费用户咨询服务，如果您在使用过程中有任何疑问，欢迎您随时拨打我司的咨询服务电话。 （4）免除保修义务 属于下列情况的试验箱（包括部件）故障或损坏，不在保修之列，请您选择有偿服务。 ·试验箱、部件已经超出保修期时； ·用户未按说明书要求，错误安装及使用造成的试验箱故障或损坏； ·用户自行修理、更改或拆卸造成的试验箱故障或损坏； ·因意外因素或人为原因（包括操作失误、搬运、硬物撞击、输入不合适电压等）导致试验箱故障或损坏； ·其他如自然灾害等不可抗力（如地震、火灾等）原因造成的试验箱故障或损坏。 |
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- ISO 4892.2
- 现行ISO 11341-2004
- SAE J2527-2004
- SAE J2412-2004
- 现行ISO 105 B02
- 现行GB/T 32088-2015
- 现行GB/T 1865-2009
- 现行GB/T 32088-2015
- ASTM G155-2005
- ISO 11341-2004
- 废止GB/T 1865-1997
